X射线荧光膜厚度计COSMOS-3X

小空间和空间测量
极小部件，具有出色的可操作性和
精度

·采用双滤波器实现精度，
在条件下进行测量·多任务功能可实现其他处理，包括在测量过程中创建报告
·准直器小值为0.05φmm，可测量极小部分

X射线荧光膜厚度计COSMOS-3X的特点

双滤镜采用

除数字滤波器外，机械滤波器（双滤波器）可用于在件下进行测量，以便始终获得精度。

完整的报告准备功能

通过采用MS-Windows软件，您可以轻松捕获测量屏幕并具有完整的报告创建功能。即使使用测量，多任务也可以进行其他处理，包括创建报告。

5种内脏器官

准直器的小直径为0.1φmm，可以测量极小的部件。标准·0.1,0.2,0.5,1.0,2.0 
另外，有两种特殊规格可供选择。
· 
0.05,0.1,0.2,0.3,0.5·0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5

自诊断功能和X射线管维护功能

自诊断功能可以快速解决设备故障。此外，还增加了X射线管使用时间和耐久时间显示功能，以支持维护安全。

薄膜厚度测量期间的光谱显示

使用多通道进行频谱分析高速处理可实现对象的简单操作和频谱显示。（处理速度约2-3秒）

显示测量单位监视器图像

将X射线照射单元装载在Windows屏幕上并显示X射线照射单元。准直器使得可以改变放大率。

关于Be window X射线管（选项）的性能提高（高精度）

            我们为X射线荧光膜厚度计EX-731准备了Be X射线管（可?。?br />            。通过使用该选项，
            可以在Cr测量和Ni测量中大大提高重复测量的精度。

            关于绩效改进的说明

            高能量（高原子序数）Sn 
         的测量与以前相同，但是在测量低能量（低原子序数）Cr和Ni的情况下，取决于膜厚度，Cr超过3倍，Ni超过2倍或更多重复
         倒钩精度有所改善。如果在两个层测量表面层的Au是略中间
         层的Ni已经由约20％提高接收贡献的精度。荧光X射线法的厚度计
         在生成其中获得的荧光X射线强度的过程中的情况下，重复测定精度（标准偏差）
         是由于统计波动确定的，施加成为窗口的X射线管（可?。?br />         由此可知，与以往的标准机相比，在Cr的情况下，获得了约9倍以上的荧光X射线强度
         。因此，可以在短时间内以与传统相同的精度进行测量。
         请考虑使用此Be窗口X射线管。

测量屏幕

直方图

X射线荧光膜厚度计COSMOS-3X的规格

注意：规格如有更改，恕不另行通知。

日本电测膜厚计COSMOS-3X  日本电测膜厚计COSMOS-3X